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美標的介電強度和擊穿電壓測試你了解多少呢

來源:技術文章    更新時間:2021-06-17    瀏覽:3456次

我們都知道很多儀器除了要滿足國標以外還要滿足其他國家標準,今天我們就來說一下關于電壓擊穿測試儀的美標ASTM 弟 149

在實際應用中,由這個方法所得到的結果很少用來直接測定材料的介電性能。在大多數情況下,為了估計具體材料的重要性,這些結果通過同由其他作用的試驗所得到的結果或者由其材料試驗所得到的結果相比較是必要的。
介電損壞(在試驗下)n:在試驗所經受的極限電場下在絕緣材料中導電性的增加而證實的結果。
 
D877 用于測試磁盤電極絕緣液體介電擊穿電壓的方法
測試方法摘要在工頻(60Hz,除非另外規定)時,施加交流電壓在試樣上。從零或者從擊穿電壓以下的電壓值增加電壓,并以三種新規定的施加電壓的方法之一增加電壓直到試驗品發生介電損壞。
跳火n:在絕緣材料上或在環境介質中的突然放電,可以或不可以引起絕緣材料的永九性損壞。這個方法可以用在各個溫度并且用在任何合適的氣體或液體環境介質中。
故障標準的變化(電流設置和響應時間)的電流傳感元件影響測試結果,附錄X1,包括介電強度試驗重要性的較完善討論。
電強度n:見介電強度“電強度”幾乎是國際性的通用。定義其他與固體絕緣材料有關的項目,參考術語D1711
本方法與IEC出版物243-1相似,所有的步驟都包括在IEC243-1中,IEC243-1之間的差異主要是編輯上的。
D1711 電氣絕緣術語
D3487 用于電氣裝置的礦物絕緣油的規范
除在中所規定的條款外,用這種不適于該試驗方法的參考依據所進行的試驗,不適于該試驗方法。如果所列條款在試驗期間不能精密地控制。所確定的準確性是不真實的。
按照此中規定所做的試驗可用來提供一部分決定已知應用材料的適用性能所需要的資料:同樣,也可用檢測起因于加工變量、老化條件或其制造情況和環境情況與正常進行的偏差或變化。該方法對于加工控制、驗收或研究試驗都是有用的。
ANSI標準最普通的,在使用簡單試驗電極施加電壓在試驗的相對面上,樣品可模塑或澆鑄或者在樣品支面從平整的片或板上切下。也可以使用其他電極和樣品構成以適應樣品材料的幾何形狀。或者為了評價材料而模擬特殊的用途。
本文法不打算用來測量在試驗條件下為流體的材料的介電強度。
本方法最常見的是用來測定通過一定厚度的試驗樣品的介電擊穿電壓(穿孔)。它也可以用來測定沿固體樣品和環繞氣體或液體介質界面的介電擊穿電壓(跳火)。加上修改部分12的說明,本方法可用于驗證試驗。
D3151 該測試方法是針對電壓力下的固體絕緣材料的熱損耗(2007撤回)
D2413 絕緣紙的制備實踐和液體介質浸漬紙板
IEC標準:
打算將這個方法同其它方法或與涉及這個方法的其它文獻資料配合使用。對于這個文獻資料的引用應該確定新使用的具體選擇。
使用這種方法的規范也應該加以規定:施加電壓的方法。如果規定用慢速升壓的方法,升高電壓的速度也要加以規定。樣品的選擇、比較和調節。在試驗期間的周圍介質和溫度。電極,如果可能,電流敏感元件的損壞判斷。
ASTM標準
D374 測試固體電絕緣厚度(2013撤回)
范圍這種測試方法包括在規定條件下于工業電源頻率時固體絕緣材料介電強度的測定的方法。
本標準中無意提及所有的安全注意事項。如有也僅是與其使用有關,方法的使用者有責任在使用本方法前制定合適的安全防護措施,并確定各項安全條令的適用性。具體的危險陳述在第7節中給出。
D5423 電絕緣評定用強制對流試驗室規范
 
在12節中規定了三種用于電壓應用的方法:方法A,短時試驗;方法B,逐級試驗;方法C慢速升壓試驗。方法A是質量控制試驗中醉常用的試驗。然而長時間試驗,方法B和C通常出比較低的試驗結果,當不同材料相到比較時可給出有意義的結果。如果試驗用電機驅動來控制電壓是可行的。那么慢速升壓試驗較逐級試驗簡單*。用方法B和C所獲得的結果可以相互比較。
本方法不打算用來測定固有介電強度,直流電壓介電強度或在電應力下的熱損壞。
D618 實踐調節塑料試驗
除非另有規定,該試驗應在60Hz下進行。當然這個方法可用于從25到800Hz的任何頻率。在800Hz以上的頻率時存在絕緣材料的介電發熱問題。
C68.1 介電測試技術,IEEE第47號標準
 
討論術語介電擊穿電壓有時簡稱為“擊穿電壓”。
意義和應用在電場存在的任何地方應用,電絕緣材料的介電強度是一種重要的性能。在許多情況下,材料介電強度,在使用電介質的儀器中是決定的因素。
任何所要求的與作為已知推薦方法的偏差。如果在所列的任一要求在所規定的資料中沒有,那么對于幾個變量的建議應遵從。
發表243-1固體絕緣材料電強度試驗方法,1部分:功率頻率測試
術語定義介電擊穿電壓(電擊穿電壓),n:所述條件下,在置于兩電極之間的電絕緣材料中出現電損壞的內在差別(見附錄X1)。
介電強度n:在規定的試驗條件下,絕緣材料出現介電損壞的電壓梯度。
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